- 产品描述
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设备特点
XTOM系统基于双目立体视觉原理，采用国际先进的外差式多频相移技术，实现非接触式的物体表面三维数据的细致、精确快速获取。与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度高、纹理细节清晰:与接触式单点测量的三坐标相比，测量效率高、点云密度大、易于数模比对，更适合大尺寸物体、复杂曲面及柔性表面的测量;与激光扫描相比，精度高、扫描速度快且抗干扰能力强，光源对人体安全无害。系统单次测量幅面可从30x30到1000x1000mm，结合全局自动拼接技术，可以实现几十米超大工件的快速高精度测量。系统广泛适用于各种有三维数据需求的行业，如汽车工业、航空航天工业、数码家电文保文创及医学等领域。
技术优势
测量技术优势
国际先进的外差式多频相移及蓝/白光测量技术支持标志点拼接、特征拼接及机械转台等多种全自动拼接方式支持对彩色、黑色及高对比度表面的直接扫描具备光学探针及单目扫描功能，可对沟槽或深孔进行扫描支持选区扫描，便于有针对性的进行区域检测、提高后期数据处理效率高质量的点云数据，细节清晰。
完整的后处理功能
丰富的后处理功能:点云去噪、融合、采样、三角化及孔洞修复等多种元素拟合功能:点、线、面、球、圆柱、圆锥等多种偏差分析功能:点偏差、距离偏差、角度偏差等。
多样的测量幅面与精度
单幅测量幅面:32mmx24mm~1000mmx1000mm
单幅扫描一次获得130~900万点云
单幅扫描时间2~4秒,扫描快捷
单幅测量精度:0.008mm~-0.05mm
可根据测量极度、速度和物体大小选择合适测量幅面界面友好，使用便捷
扫描预览，实时跟踪标志点
扫描结果三维显示，灵活的三维显示控制
坐标转换功能，321坐标转换功能.。
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东莞市宝利智能装备有限公司
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